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摘要
本发明涉及基因测序技术领域，提供了一种基于多步双向De Bruijn图的变长kmer查询的顶点扩展方法，包括：步骤A：读取测序数据源文件，构造多步双向De Bruijn图；步骤B：在所述多步双向De Bruijn图中对分叉顶点的变长kmer进行构造和统计；步骤C：在所述多步双向De Bruijn图中基于变长kmer查询的顶点扩展。本发明只选取一些分叉的顶点构建非常少的一些变长kmer，然后对这些分叉顶点进行定向解耦，无需对每种kmer长度都去构建一个De Bruijn图，可以方便快速地解决所有长度小于序列长度的repeat，最大化contig的长度和质量。
交易流程
过户材料
| 买卖双方需提供材料 | 平台提供 | 过户后您将会获得 | ||
| 公司 | 个人 |
专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 |
专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 |
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| 买家 |
企业营业执照 企业组织机构代码证 |
身份证 | ||
| 卖家 |
企业营业执照 专利证书原件 |
身份证 专利证书原件 |
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