[转让] 一种量子产率的测试方法

专利类型:发明

合作方式:转让

出售价格: 面议

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摘要

公开了一种量子产率的测试方法,用于测试待测样品的量子产率Q,包括:提供量子产率为Q<Sub>r</Sub>的参比样品;提供折射率为n<Sub>r</Sub>的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂,获得参比样品溶液/胶体和待测样品溶液/胶体;获得参比样品溶液/胶体的吸光度A<Sub>r</Sub>,和待测样品溶液/胶体的吸光度A;制备稀释因子为T<Sub>r</Sub>的参比样品稀释液,和稀释因子为T的待测样品稀释液;获得参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N<Sub>r</Sub>和单个分子或粒子的荧光强度I<Sub>r</Sub>,和待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I;计算单分子水平下的量子产率<Image file="DDA00003024470600011.GIF" he="52" imgContent="undefined" imgFormat="GIF" wi="256"/>该测试方法简单,测量准确性较高,为量子产率计算提供了理论方法。

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